儀器適用于以二維平面測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域。這些領(lǐng)域有:機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器,磁性材料、精密五金、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、計(jì)算機(jī)(電腦)、液晶電視(LCD)、印刷電路板(線路板、PCB)、汽車、醫(yī)療器械、鐘表、螺絲、彈簧、儀器儀表、齒輪、凸輪、螺紋、半徑樣板、螺紋樣板、電線電纜、刀具、軸承、篩網(wǎng)、試驗(yàn)篩、水泥篩、網(wǎng)板(鋼網(wǎng)、SMT模板)等。
影像測量儀ISO標(biāo)準(zhǔn)
影響影像測量儀精度的因素主要有精度指示、結(jié)構(gòu)原理、測量方法、日常不注意維護(hù)等。 中國1994年實(shí)行了《坐標(biāo)測量的驗(yàn)收檢測和復(fù)檢測量》的實(shí)施。具體內(nèi)容如下:
第1部分:測量線性尺寸的坐標(biāo)測量機(jī);
第2部分:配置轉(zhuǎn)臺軸線為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī);
第3部分:掃描測量型坐標(biāo)測量機(jī);
第4部分:多探針探測系統(tǒng)的坐標(biāo)測量機(jī);
第5部分:計(jì)算高斯輔助要素的誤差評定。 在測量空間的任意7種不同的方位,測量一組5種尺寸的量塊,每種量塊長度分別測量3次所有測量結(jié)果必須在規(guī)定的MPEE值范圍內(nèi)。
zui大允許探測誤差(MPEP):25點(diǎn)測量精密標(biāo)準(zhǔn)球,探測點(diǎn)分布均勻。zui大允許探測誤差MPEP值為所有測量半徑的zui大值。
ISO 10360-3 (2000) “配置轉(zhuǎn)臺軸線為第四軸的坐標(biāo)測量機(jī)” :對于配備了轉(zhuǎn)臺的測量機(jī)來說,測量機(jī)的測量誤差在這部分進(jìn)行了定義。主要包含三個(gè)指標(biāo):徑向四軸誤差(FR)、切向四軸誤差(FT)、軸向四軸誤差(FA)。
ISO 10360-4 (2003) “掃描測量型坐標(biāo)測量機(jī)” :這個(gè)部分適用于具有連續(xù)掃描功能的坐標(biāo)測量機(jī)。它描述了在掃描模式下的測量誤差。
大多數(shù)測量機(jī)制造商定義了"在THP情況下的空間掃描探測誤差"。在THP之外,標(biāo)準(zhǔn)還定義了在THN、TLP和TLN情況下的掃描探測誤差。 沿標(biāo)準(zhǔn)球上4條確定的路徑進(jìn)行掃描。zui大允許掃描探測誤差MPETHP值為所有掃描半徑的zui大差值。THP說明了沿已知路徑在密度zui大的點(diǎn)上的掃描特性。注:THP的說明必須包括總的測量時(shí)間,例如:THP = 1.5um (掃描時(shí)間是72 秒)。
ISO 10360-4 進(jìn)一步說明了以下各項(xiàng)定義:
TLP: 沿已知路徑,以低密度點(diǎn)的方式掃描。
THN: 沿未知路徑,以高密度點(diǎn)的方式掃描。
TLN: 沿未知路徑,以低密度點(diǎn)的方式掃描。
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